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    2.5.2场发射扫描电镜(FESEM)
    FESEM测量使用场发射扫描电子显微镜 (Supra 55, Carl Zeiss SMT Pte. Ltd.)，将粉状样品放置在导电膜中，且加速电压为2kV。
    2.5.3氮吸附分析
    氮吸附测量在77K下的奥纳康塔AUTOSORB-1-C自动气体吸附装置中进行，比表面积通过Brunauer–Emmett–Teller方程计算，孔径分布通过DFT法计算。
    2.5.4紫外可见光谱
    用2g环己烷稀释20μL HAuCl4/SiO2或Au/SiO2 NCPs分散液。使用UV-2450紫外-可见分光计（Shimadzu制作公司）记录350-700nm处的紫外可见光谱。
    2.5.5 X射线衍射
    使用XRD 对样品进行相分析，使用的X射线衍射装置是具有Bragg-Brentanoθ-2θ结构的Bruker D8 Advance型装置，发电机是以铜作为阳极的高功率衍射管，并且是在1.6kW的工作电源下操作（40kV，40 mA）的。使用Cu Kα辐射(λ=1.5418Å)进行衍射扫描，分别以0.0195◦的分辨率从20◦扫描到90◦；用于X射线衍射的粉末样品放置在聚合物样品架中。
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