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        形貌结构分析通过使用CuK_α射线在Bruker Advance D8 x射线衍射仪进行                                                                                                                     射线衍射(XRD)；样品形貌通过高分辨透射电子显微镜(High Resolution Transmission Electron Microscopy，HRTEM, JOEL-2010)下观察；X射线光电子能谱（XPS）模式被记录在一个Escalab MkII X射线光电子谱仪上，用的是Mg KαX射线作为放射源。

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