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在许多弹药起爆系统，如航天飞行器中，要求在发射前检验大部分系统的完好性，而一旦火工品装配系统后，由于含能材料的存在使得这种检测不能完整地进行。但是光路中可能存在光纤弯曲、折断、端面污染、划痕或烧蚀等各种失效因素，它们带来的损耗降低了发火可靠性。系统需要检测从电信号输入到激光火工品接收光信号的端-端状态，如果用离线式检测方法，即把测试仪器接入到系统中分段测量，系统是不完整的，尤其是连接点处的状态是未知的。
美国Quantic工业公司早在90年代初率先研究光路内置式检（built-in-test，简称 BIT）系统，可以在激光起爆系统没有受到任何损坏条件下验证其完好性和性能。至今已经历了三代，其发展历程非常具有典型性。第一代（1993 年）BIT系统中发火和检测用同一根光纤[12]，到第二代[13]（1996 年）、第三代[14,15]（99年和 2002 年）发火和检测分别使用一根光纤（双光纤），避免返回 BIT 信号中的菲涅尔反射干扰。
双光纤式自检系统是否可行最主要是看检测光在满足安全要求的情况下的返回信号特性。理论上来说，只要光路出现异常，在其中传输的光能量也会发生变化。检测光返回信号要能清楚的体现检测光路是否安全，通畅，则必须具备两个条件：一是检测光的返回值达到一定的强度；二是光探测器需要有足够的灵敏度。双光纤自检系统的目的是从检测光纤接收到的反射的检测光功率大小来判断光路的故障，即检测光的接收率越高，所反映的光路信息越丰富、完整，越能反映出真实的、细小的光路情况。根据 AIAA 标准对光路自检的设计要求，检测光功率必须小于最大全不发火功率的 1%，到达药剂表面的能量必须小于全不发火能量的1/10000[16]。
1.3 本论文的主要研究工作
查阅资料，结合半导体激光器的特点与性能，设计一套带有保险系统与自检系统的半导体激光点火系统。并对其关键元件进行设计分析。
对半导体激光器性能进行测试，了解半导体激光器的性能与特点。配制B/KNO3点火药，对其进行表征，使用升降法，用半导体激光器测量不同配比、不同压药压力时B/KNO3和参杂2%碳纳米管的PETN的激光感度。
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